Espectrómetro XRF y XRD - ARL 9900
Solución de integrada para laboratorios de espectrometría que integra las técnicas de fluorescencia de Rayos X (XRF) y difracción de rayos X (XRD), permite el análisis rápido y preciso de muestras sólidas de diversos tipos. En su configuración simultánea, se puede cargar una nueva muestra cada minuto para un análisis.
Permite el análisis en hasta 86 elementos (de Berilio a Americio, 5 a 95 en la tabla de Mendeleev) en concentraciones que van desde partes por millón (ppm) hasta el 100% que pueden ser detectadas con el poderoso goniómetro. La solución integra un software avanzado que permite una rápida puesta en servicio de nuevos métodos, generando informes y almacenamiento rápido de los resultados analíticos.
Detecta y analiza hasta 86 elementos
Tubo de última generación y alto rendimiento
32 monocromadores fijos para análisis rápido
Goniómetro de programación automática
Análisis cualitativo y semicuantitativo de muestras
Introducción de muestras rápida y sencilla
CARACTERÍSTICAS
Sistema de introducción de muestras rápido, sencillo y altamente fiable que utiliza un cambiador de muestras de 12 posiciones
Fácilmente actualizable para implementar los requisitos analíticos en constante evolución
Los cartuchos pequeños y grandes pueden acomodar muestras de varios tamaños
El asistente analítico integrado guía la creación o extensión de métodos con los mejores parámetros analíticos para análisis rápidos y precisos
VENTAJAS
La ausencia de engranajes, y por lo tanto de fricción, los convierte en sistemas “sin desgaste” que garantizan una reproducibilidad angular excelente y consistente (< ± 0,0002°) y precisión (0,001°).
El cargador amplio X-Y permite el manejo automático de series más grandes de muestras. El cargador X-Y dispone de 98 posiciones codificadas para muestras en casetes o en soportes específicos. La codificación de cada posición permite la operación desatendida y ahorra tiempo y esfuerzo al determinar qué muestra pertenece a un análisis en particular
Alineación automática de la relación angular theta/2theta entre el cristal y el detector: Esta alineación la realiza electrónicamente el microprocesador y, a diferencia de los sistemas convencionales, no se necesitan ajustes mecánicos
La clave de su versatilidad es la tecnología patentada que permite combinar dos técnicas de rayos X: fluorescencia de rayos X (XRF) y difracción de rayos X (XRD) en un solo instrumento
USOS
La técnica XRD permite el análisis de las fases o compuestos en materiales cristalinos como rocas, minerales y materiales y productos de óxido | Información sobre los contenidos de CaO, CaCO3, Ca(OH)2 y otras fases de Ca o los niveles de las fases de Fe, como FeO, Fe2 O3, Fe3 O4, Fe3 C y otras fases de Fe | Cal libre en clinker y en escorias | Fases de hierro en procesos DRI | Fases relacionadas con la electrólisis del aluminio | Otras aplicaciones minerales y mineras
EXPERIENCIA WG
Con la adquisición de este equipo, obtienes 1 año de garantía directamente con nuestra empresa, capacitación operativa con personal especializado y de fábrica. Acompañamiento y consultoría en la implementación de la solución cumpliendo con las regulaciones de normativas ambientales.
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